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InSEM HT高溫原位納米壓痕儀（高溫）通過(guò)在真空環(huán)境中單加熱jian端和樣品來(lái)測(cè)量高溫下的硬度、模量和硬度。INSEM®HT與掃描電子顯微鏡（SEM）和聚焦離子束（FIB）或立真空室兼容。附帶的InView軟件可以協(xié)助開(kāi)發(fā)新的實(shí)驗(yàn)。科學(xué)出版物表明，InSEM HT結(jié)果與傳統(tǒng)大型高溫試驗(yàn)數(shù)據(jù)吻合。廣泛的溫度范圍使InSEM HT成為開(kāi)發(fā)研究材料的一個(gè)非常有價(jià)值的工具。
更新時(shí)間：2024-06-17
產(chǎn)品型號(hào)：In-SEM HT
瀏覽量：1975
原位納米壓痕儀 SEM/AFM/LM NanoFlip產(chǎn)品既可以工作在真空環(huán)境下進(jìn)行各種原位力學(xué)測(cè)試；也可以直接在大氣環(huán)境下測(cè)試。本產(chǎn)品可進(jìn)行硬度和楊氏模量測(cè)試、連續(xù)剛度測(cè)試、力學(xué)性能譜圖、納米動(dòng)態(tài)力學(xué)分析、劃痕和磨損測(cè)試、柱壓縮等測(cè)試，可同時(shí)將SEM圖像與力學(xué)測(cè)試數(shù)據(jù)同步。還可以進(jìn)行快速壓痕測(cè)量，這是在惰性環(huán)境（如手套箱）中研究非均均相材料的重要手段。
更新時(shí)間：2024-06-17產(chǎn)品型號(hào)：Nano Flip瀏覽量：2066